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Defect formation and annealing behavior of Si implanted by high-energy 166Er ions 期刊论文
2001, 卷号: 174, 期号: 1-2, 页码: 137-142
作者:  Li, Yuguo[1,2];  Tan, Chunyu[2];  Xue, Chengshan[1];  Zhang, Jingping[1];  Xu, Honglei[2]
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Radiation damage and annealing behavior of 2.0 MeV 160Er+ implanted silicon 期刊论文
2000, 卷号: 77, 期号: 1, 页码: 1-5
作者:  Li, Yuguo[1];  Tan, Chunyu[1];  Zhang, Jingping[2];  Xue, Chengshan[2];  Xu, Honglei[1]
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