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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Thickness measurement of transparent film by white-light interferometry 期刊论文 Proceedings of SPIE: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Design, Manufacturing, and Testing of Micro- and Nano-Optical Devices and Systems; and Smart Structures and Materials, 2016, 卷号: 9685, 页码: 968506 作者:  Deng, Qinyuan;  Zhou, Yi;  Liu, Junbo;  Yao, Jingwei;  Hu, Song 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2018/06/14 Film Thickness  Manufacture  Materials Testing  Optical Devices  Optical Films  Reflection  Reflectometers  Structural Design  Thickness Gages  Thickness Measurement  Thin Films