×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
苏州纳米技术与纳米仿... [6]
内容类型
期刊论文 [6]
发表日期
2017 [1]
2016 [4]
2015 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共6条,第1-6条
帮助
限定条件
专题:苏州纳米技术与纳米仿生研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
High-resistivity unintentionally carbon-doped GaN layers with nitrogen as nucleation layer carrier gas grown by metal-organic chemical vapor deposition
期刊论文
AIP ADVANCES, 2017
作者:
Chen, F
;
Sun, SC
;
Deng, XG(邓旭光)
;
Fu, K(付凯)
;
Yu, GH(于国浩)
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2018/02/05
AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor high electron mobility transistors with reduced leakage current and enhanced breakdown voltage using aluminum ion implantation
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016, 卷号: 108, 期号: 1
作者:
Sun, SC
;
Fu, K(付凯)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, ZL
;
Song, L
收藏
  |  
浏览/下载:35/0
  |  
提交时间:2017/03/11
Influence of the TMAl source flow rate of the high temperature AlN buffer on the properties of GaN grown on Si(111) substrate
期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2016, 卷号: 671
作者:
Wang, K
;
Xing, YH
;
Han, J
;
Zhao, KK
;
Guo, LJ
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2017/03/11
Growths of Fe-doped GaN high-resistivity buffer layers for AlGaN/GaN high electron mobility transistor devices
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 1
作者:
Wang, K
;
Xing, YH
;
Han, J
;
Zhao, KK
;
Guo, LJ
收藏
  |  
浏览/下载:51/0
  |  
提交时间:2017/03/11
Studies on High-Voltage GaN-on-Si MIS-HEMTs Using LPCVD Si3N4 as Gate Dielectric and Passivation Layer
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 2
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, XD(张晓东)
;
Deng, XG(邓旭光)
;
Li, SM(李水明)
收藏
  |  
浏览/下载:36/0
  |  
提交时间:2017/03/11
Normally Off AlGaN/GaN MIS-High-Electron Mobility Transistors Fabricated by Using Low Pressure Chemical Vapor Deposition Si3N4 Gate Dielectric and Standard Fluorine Ion Implantation
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015, 卷号: 36, 期号: 11, 页码: 4
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Fu, K(付凯)
;
Deng, XG(邓旭光)
;
Zhang, XD(张晓东)
;
Fan, YM(范亚明)
收藏
  |  
浏览/下载:66/0
  |  
提交时间:2015/12/31
AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT)
standard fluorine ion implantation
normally off
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace