×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
半导体研究所 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2013 [1]
2008 [3]
2006 [1]
1998 [2]
1996 [1]
学科主题
半导体物理 [3]
半导体材料 [2]
光电子学 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共8条,第1-8条
帮助
限定条件
专题:半导体研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Cooling Rate Dependent Lattice Rotation in Ge on Insulators Formed by Rapid Melt Growth
期刊论文
ecs solid state lett., 2013, 卷号: 2, 期号: 9, 页码: 73-75
J. J. Wen, Z. Liu, L. L. Li, C. Li, C. L. Xue, Y. H. Zuo, C. B. Li, Q. M. Wang and B. W. Chengz
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2014/04/04
Structural and electrical properties of (110) zno epitaxial thin films on (001) srtio3 substrates
期刊论文
Solid state communications, 2008, 卷号: 148, 期号: 5-6, 页码: 247-250
作者:
Wu, Yunlong
;
Zhang, Liuwan
;
Xie, Guanlin
;
Ni, Jun
;
Chen, Yonghai
收藏
  |  
浏览/下载:28/0
  |  
提交时间:2019/05/12
Zno thin films
Pulsed laser deposition
Electrical resistance
QtUCP-A program for determining unit-cell parameters in electron diffraction experiments using double-tilt and rotation-tilt holders
期刊论文
ultramicroscopy, 2008, 卷号: 108, 期号: 12, 页码: 1540-1545
Zhao HS
;
Wu DQ
;
Yao JC
;
Chang AM
收藏
  |  
浏览/下载:45/0
  |  
提交时间:2010/03/08
Electron diffraction
Structural and electrical properties of (110) ZnO epitaxial thin films on (001) SrTiO3 substrates
期刊论文
solid state communications, 2008, 卷号: 148, 期号: 39939, 页码: 247-250
Wu, YL
;
Zhang, LW
;
Xie, GL
;
Ni, J
;
Chen, YH
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2010/03/08
ZnO thin films
Pulsed laser deposition
Electrical resistance
Symmetry restrictions in the chirality dependence of physical properties of single-wall nanotubes
期刊论文
physical review b, 2006, 卷号: 73, 期号: 15, 页码: art.no.155424
Ye F
;
Wang BS
;
Su ZB
收藏
  |  
浏览/下载:54/0
  |  
提交时间:2010/04/11
BORON-NITRIDE NANOTUBES
CARBON NANOTUBES
ELECTRONIC-STRUCTURE
OPTICAL-ACTIVITY
Triclinic deformation and anisotropic strain relaxation of an inas film on a gaas(001) substrate measured by a series of symmetric double crystal x-ray diffraction
期刊论文
Journal of crystal growth, 1998, 卷号: 191, 期号: 4, 页码: 627-630
作者:
Wang, HM
;
Zeng, YP
;
Zhou, HW
;
Kong, MY
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/05/12
Triclinic deformation and anisotropic strain relaxation of an InAs film on a GaAs(001) substrate measured by a series of symmetric double crystal X-ray diffraction
期刊论文
journal of crystal growth, 1998, 卷号: 191, 期号: 4, 页码: 627-630
Wang HM
;
Zeng YP
;
Zhou HW
;
Kong MY
收藏
  |  
浏览/下载:52/0
  |  
提交时间:2010/08/12
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
HALL ELEMENTS
GAAS
MISORIENTATION
DISTORTION
LAYERS
MBE
SI
HETEROSTRUCTURES
GROWTH
Assessment of the structural properties of GaAs/Si epilayers using X-ray (004) and (220) reflections
期刊论文
japanese journal of applied physics part 1-regular papers short notes & review papers, 1996, 卷号: 35, 期号: 12a, 页码: 6017-6018
Hao MS
;
Wang YT
;
Shao CL
;
Soga TS
;
Liang JW
;
Jimbo T
;
Umeno M
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2010/11/17
lattice constant
misorientation
X-ray reflection
GaAs/Si epilayer
SI
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace