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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 STUDY ON MICROWAVE CYCLOTRON RESONANCE OF HIGH-MOBILITY GaAs/Al-0.35 Ga-0.65 As TWO-DIMENSIONAL ELECTRON GAS 期刊论文 journal of infrared and millimeter waves, 2010, 卷号: 29, 期号: 2, 页码: 87- Yang W (Yang Wei); Luo HH (Luo Hai-Hui); Qian X (Qian Xuan); Ji Y (Ji Yang) 收藏  |  浏览/下载：77/0  |  提交时间：2010/05/24 microwave  reflectance  two-dimensional electron gas(2DEG)  cyclotron resonance  QUANTUM-WELLS  GAAS/ALGAAS HETEROSTRUCTURES  GERMANIUM  SILICON   Strain analysis of inp/ingaasp wafer bonded on si by x-ray double crystalline diffraction 期刊论文 Materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 133, 期号: 1-3, 页码: 117-123 作者:  Zhao, Hong-Quan;  Yu, Li-Juan;  Huang, Yong-Zhen;  Wang, Yu-Tian 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/05/12 Inp  Si  X-ray double crystalline diffraction  Thermal strain  Wafer bonding   Strain analysis of InP/InGaAsP wafer bonded on Si by X-ray double crystalline diffraction 期刊论文 materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 133, 期号: 1-3, 页码: 117-123 Zhao HQ (Zhao Hong-Quan); Yu LJ (Yu Li-Juan); Huang YZ (Huang Yong-Zhen); Wang YT (Wang Yu-Tian) 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2010/04/11 InP  Si  X-ray double crystalline diffraction  thermal strain  wafer bonding  OPTOELECTRONIC DEVICES  EPITAXIAL OVERGROWTHS  TEMPERATURE  INTERFACE  STRESSES  VCSELS  SURFACES  ENERGY