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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：上海电子信息职业技术学院    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Quantitative depth profiling of Si1–xGex structures by time-of-flight secondary ion mass spectrometry and secondary neutral mass spectrometry 期刊论文 Thin Solid Films, 2016, 卷号: Vol.607, 页码: 25-31 作者:  Belykh,S.F.;  Yurasov,D.V.;  Drozdov,Y.N.;  Gololobov,G.P.;  Yunin,P.A. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/24 Electron-gas  secondary  neutral  mass  spectrometry  Mixing-roughness-information  depth  model  Reference  samples  SiGe  structures  Sputter  depth  profiling  Time-of-flight  secondary  ion  mass  spectrometry   Finite difference method for the arbitrary potential in two dimensions: Application to double/triple quantum dots 期刊论文 Superlattices and Microstructures, 2014, 卷号: Vol.65, 页码: 113-123 作者:  JaiSeokAhn 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/30 Potential  with  arbitrary  shape  Finite  difference  method  Double  quantum  dots  Triple  quantum  dots  Diagonalization  Two-dimensional  electron  gas  GaAs  Quantum  information   Compact non-binary fast adders using single-electron devices. 期刊论文 Microelectronics Journal, 2009, 卷号: Vol.40 No.8, 页码: 1244-1254 作者:  Zhang,Wancheng;  Wu,Nan-Jian 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/13 Digital  arithmetic  Digital  devices  Electric  potential  Electron  devices  Electrons  Information  dissemination  Number  theory  Semiconductor  quantum  dots  Spontaneous  emission   Chapter 4. Reactant Compact and Product Microstructures for TiC, TiB2, and TiC/TiB2 from SPS Processing 期刊论文 14th Annual Conference on Composites and Advanced Ceramic Materials, Part 2 of 2: Ceramic Engineering and Science Proceedings, Volume 11, Issue 9/10, 2008, 页码: 1203-1225 作者:  RoyW.Rice 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/13 information  propagation  electron  microscope  vicinity