×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
上海电子信息职业技术... [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2016 [1]
2014 [1]
2009 [1]
2008 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
专题:上海电子信息职业技术学院
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Quantitative depth profiling of Si1–xGex structures by time-of-flight secondary ion mass spectrometry and secondary neutral mass spectrometry
期刊论文
Thin Solid Films, 2016, 卷号: Vol.607, 页码: 25-31
作者:
Belykh,S.F.
;
Yurasov,D.V.
;
Drozdov,Y.N.
;
Gololobov,G.P.
;
Yunin,P.A.
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/24
Electron-gas
secondary
neutral
mass
spectrometry
Mixing-roughness-information
depth
model
Reference
samples
SiGe
structures
Sputter
depth
profiling
Time-of-flight
secondary
ion
mass
spectrometry
Finite difference method for the arbitrary potential in two dimensions: Application to double/triple quantum dots
期刊论文
Superlattices and Microstructures, 2014, 卷号: Vol.65, 页码: 113-123
作者:
JaiSeokAhn
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/30
Potential
with
arbitrary
shape
Finite
difference
method
Double
quantum
dots
Triple
quantum
dots
Diagonalization
Two-dimensional
electron
gas
GaAs
Quantum
information
Compact non-binary fast adders using single-electron devices.
期刊论文
Microelectronics Journal, 2009, 卷号: Vol.40 No.8, 页码: 1244-1254
作者:
Zhang,Wancheng
;
Wu,Nan-Jian
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2020/01/13
Digital
arithmetic
Digital
devices
Electric
potential
Electron
devices
Electrons
Information
dissemination
Number
theory
Semiconductor
quantum
dots
Spontaneous
emission
Chapter 4. Reactant Compact and Product Microstructures for TiC, TiB2, and TiC/TiB2 from SPS Processing
期刊论文
14th Annual Conference on Composites and Advanced Ceramic Materials, Part 2 of 2: Ceramic Engineering and Science Proceedings, Volume 11, Issue 9/10, 2008, 页码: 1203-1225
作者:
RoyW.Rice
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2020/01/13
information
propagation
electron
microscope
vicinity
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace