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安徽大学 [25]
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Interface Modulation and Optimization of Electrical Properties of HfGdO/GaAs Gate Stacks by ALD‐Derived Al2O3 Passivation Layer and Forming Gas Annealing
期刊论文
Advanced Electronic Materials, 2018, 卷号: Vol.4 No.4
作者:
Wendong Li
;
Shuang Liang
;
Li Zhu
;
Mao Liu
;
Mingliang Tian
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浏览/下载:44/0
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提交时间:2019/04/22
electrical
properties
forming
gas
annealing
high‐k
gate
dielectrics
interface
chemistry
metal‐oxide‐semiconductor
capacitors
Structure, mechanical and friction behavior of laminar Ti-incorporated Al2O3 thermal control films deposited on polyethylene terephthalate flexible substrates
期刊论文
Vacuum, 2018, 卷号: Vol.154, 页码: 244-249
作者:
Wenchao Shi
;
Dongmei Gong
;
Feng Xu
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/22
Thin
film
Polyethylene
terephthalate
Adhesion
strength
Deform
Friction
coefficient
Modulation of electrical properties and current conduction mechanism of HfAlO/Ge gate stack by ALD-derived Al2O3 passivation layer
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2017, 卷号: Vol.695, 页码: 1591-1599
作者:
Li,W. D.
;
Jin,P.
;
Wei,H. H.
;
Xiao,X. D.
;
Gao,J.
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/22
SURFACE PASSIVATION
INTERFACE PROPERTIES
HIGH-PERFORMANCE
DEPOSITED AL2O3
HYBRID FILMS
GE
DIELECTRICS
HFO2
CAPACITORS
GAAS
Modulation of interfacial and electrical properties of ALD-derived HfAlO/Al2O3/Si gate stack by annealing temperature
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2017, 卷号: Vol.691, 页码: 504-513
作者:
Lv,J. G.
;
Jin,P.
;
Xiao,D. Q.
;
Zheng,C. Y.
;
Chen,X. S.
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/22
PULSED-LASER DEPOSITION
THERMAL-STABILITY
BAND ALIGNMENT
DIELECTRICS
SILICON
OXIDE
HFO2
SUBSTRATE
BARRIER
MEMORY
BN/Al2O3/碳纤维填充MVQ导热复合材料的制备
期刊论文
材料科学与工程学报, 2017, 卷号: 第35卷, 页码: 815-819
作者:
张琳琳
;
杨斌
;
陈鹏
;
苗继斌
;
程国君
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/04/17
硅橡胶
热导率
片层BN
球形Al2O3
碳纤维
Interface chemistry and electronic structure of ALD-derived HfAlO/Ge gate stacks revealed by X-ray photoelectron spectroscopy
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2017, 卷号: Vol.716, 页码: 1-6
作者:
Liu,Yanmei
;
Sun,Zhaoqi
;
Jiang,Shanshan
;
Li,Jing
;
Liu,Mao
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/24
ATOMIC-LAYER-DEPOSITION
DIELECTRICS
AL2O3
HFO2
Passivation of Ge surface treated with trimethylaluminum and investigation of electrical properties of HfTiO/Ge gate stacks
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY, JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY, 2017, 卷号: Vol.33 No.8, 页码: 901-906
作者:
Jiang,Shanshan
;
Zhu,Li
;
Gao,Juan
;
Xiao,Dongqi
;
Liang,Shuang
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/04/24
ATOMIC-LAYER-DEPOSITION
THERMAL-STABILITY
BAND ALIGNMENT
MOS CAPACITORS
HFO2
DIELECTRICS
AL2O3
SUBSTRATE
QUALITY
CMOS
Modification of electrical properties and carrier transportation mechanism of ALD-derived HfO2/Si gate stacks by Al2O3 incorporation
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2016, 卷号: Vol.667, 页码: 352-358
作者:
Sun,Zhaoqi
;
Liu,Mao
;
Chen,Hanshuang
;
Gao,Juan
;
Xiao,Dongqi
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/22
TEMPERATURE-DEPENDENCE
LEAKAGE CURRENT
DIELECTRICS
OXIDE
FILMS
SI
CAPACITORS
THICKNESS
Structural determination of (Al2O3)n (n = 1-15) clusters based on Graphic Processing Unit.
期刊论文
J Chem Inf Model., 2015, 卷号: Vol.55 No.5, 页码: 1012-1020
作者:
Cheng L.
;
Zhang Q
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/04/22
Deposition and Determination of Band Alignment of Al2O3/Si Gate Stacks by New CVD Chemistry
期刊论文
ASIAN JOURNAL OF CHEMISTRY, 2014, 卷号: Vol.26 No.5, 页码: 1563-1564
作者:
Sun,Zhaoqi
;
Song,Xueping
;
Chen,Xuefei
;
He,Gang
;
Deng,Bin
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/04/22
High-k
gate
dielectrics
Band
alignment
Precursor
Thermal
stability
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