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新疆理化技术研究所 [39]
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会议论文 [2]
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2021 [2]
2020 [1]
2018 [3]
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专题:新疆理化技术研究所
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Gold nanoparticles modified graphene foam with superhydrophobicity and superoleophilicity for oil-water separation
期刊论文
SCIENCE OF THE TOTAL ENVIRONMENT, 2021, 卷号: 758, 期号: 3, 页码: 1-10
作者:
Liu, S (Liu, Shuai)[ 1 ]
;
Wang, SS (Wang, Shanshan)[ 3 ]
;
Wang, H (Wang, Hui)[ 5 ]
;
Lv, CJ (Lv, Chongjiang)[ 1,4 ]
;
Miao, YC (Miao, Yuchen)[ 1,4 ]
收藏
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浏览/下载:54/0
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提交时间:2021/03/05
Gold nanoparticles
Superhydrophobic
Graphene foam
Oil-water separation
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
;
He, CF (He, Chengfa) 1
;
Guo, Q (Guo, Qi) 1
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/12/06
Threshold voltage
TestingMOSFET circuits
Transistors
Standards
Logic gates
Fluctuations
Buried oxide (BOX)
silicon-on-insulator (SOI)
total ionizing dose (TID)
delta-Calculus: A New Approach to Quantifying Location Privacy
期刊论文
CMC-COMPUTERS MATERIALS & CONTINUA, 2020, 卷号: 63, 期号: 3, 页码: 1323-1342
作者:
Yin, LH (Yin, Lihua)[ 1 ]
;
Li, R (Li, Ran)[ 1,2 ]
;
Ding, JQ (Ding, Jingquan)[ 3,4,5 ]
;
Li, X (Li, Xiao)[ 3,4,5 ]
;
Guo, YC (Guo, Yunchuan)[ 2 ]
收藏
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2020/05/27
Location privacy
delta-calculus
relative entropy
空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018
作者:
马腾
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2018/07/06
金属氧化物半导体
辐射效应
可靠性
辐射诱导泄漏电流
介质经时击穿
Total ionizing dose and synergistic effects of magnetoresistive random-access memory
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2018, 卷号: 29, 期号: 8, 页码: 1-5
作者:
Zhang, XY (Zhang, Xing-Yao)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Li, YD (Li, Yu-Dong)
;
Wen, L (Wen, Lin)
;
Zhang, XY
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2018/08/07
Magnetoresistive Random-access Memory Total Ionizing Dose
Synergistic Effect
Investigating the TDDB lifetime growth mechanism caused by proton irradiation in partially depleted SOI devices
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 81, 期号: 2, 页码: 112-116
作者:
Ma, T (Ma, Teng)
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Zhou, H (Zhou, Hang)
收藏
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浏览/下载:55/0
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提交时间:2018/03/14
Reliability
Proton Irradiation
Radiation Induced Leakage Current (Rilc)
Time-dependent Dielectric Breakdown (Tddb)
Total Ionizing Does (Tid)
Study on dielectric, optic and magnetic properties of manganese and nickel co-doped bismuth ferrite thin film
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2017, 卷号: 28, 期号: 7, 页码: 5609-5614
作者:
Liu, KT (Liu, K. T.)
;
Li, J (Li, J.)
;
Xu, JB (Xu, J. B.)
;
Xu, FL (Xu, F. L.)
;
Wang, L (Wang, L.)
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2017/05/17
An Increase in TDDB Lifetime of Partially Depleted SOI Devices Induced by Proton Irradiation
期刊论文
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2017, 卷号: 34, 期号: 7, 页码: 181-184
作者:
Ma, T (Ma, Teng)
;
Zheng, QW (Zheng, Qi-Wen)
;
Cui, JW (Cui, Jiang-Wei)
;
Zhou, H (Zhou, Hang)
;
Su, DD (Su, Dan-Dan)
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2017/12/14
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:
汪波
收藏
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浏览/下载:193/0
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提交时间:2016/09/27
CMOS图像传感器
钳位光电二极管
电离总剂量效应
位移损伤效应
抗辐射加固
Dose-rate sensitivity of deep sub-micro complementary metal oxide semiconductor process
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 7
作者:
Zheng, QW (Zheng Qi-Wen)
;
Cui, JW (Cui Jiang-Wei)
;
Wang, HN (Wang Han-Ning)
;
Zhou, H (Zhou Hang)
;
Yu, DZ (Yu De-Zhao)
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2016/12/12
total ionizing dose effects
deep sub-micron
metal oxide semiconductor field effect transistor
static random access memory
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