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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Synergistic effect of total ionizing dose on single event effect induced by pulsed laser microbeam on SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 1-10 作者:  Zhang, JX (Zhang, Jin-Xin)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, Hong-Xia)[ 2,3 ];  Pan, XY (Pan, Xiao-Yu)[ 3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 2 ];  Zhang, FQ (Zhang, Feng-Qi)[ 3 ] 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2018/11/20 Sige Hbt  Synergistic Effect  Single Event Effects  Total Ionizing Dose   现代维吾尔语词汇信息处理关键技术研究 学位论文 博士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者:  艾孜尔古丽·玉素甫 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2016/09/27 现代维吾尔语  平衡语料库构建  词汇信息处理技术  词汇计量研究   Radiation damage effect and post-annealing treatments of NPN-input bipolar operational amplifier in electron radiation environment 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 13, 页码: 302-308 作者:  Jiang, K (Jiang Ke);  Lu, W (Lu Wu);  Hu, TL (Hu Tian-Le);  Wang, X (Wang Xin);  Guo, Q (Guo Qi) 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2018/01/25 Npn-input Bipolar Operational Amplifier  Electron Radiation  Radiation Effect  Annealing   A novel technique for predicting ionizing radiation effects of commercial MOS devices 期刊论文 Chinese Physics, 2004, 卷号: 13, 期号: 6, 页码: 948-953 作者:  Zhang Guo-Qiang;  Guo Qi;  Erkin;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2012/11/29