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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：计算技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/16 microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing   On guaranteed smooth switching for buffered crossbar switches 期刊论文 IEEE-ACM TRANSACTIONS ON NETWORKING, 2008, 卷号: 16, 期号: 3, 页码: 718-731 作者:  He, Si-Min;  Sun, Shu-Tao;  Guan, Hong-Tao;  Zheng, Qiang;  Zhao, You-Jian 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/16 buffered crossbar  scheduling  smoothness  switches   Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文 Journal of Computer Science and Technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维) 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/11/02 Microprocessor Design-for-testability  Test Generation  Built-in Self-test  At-speed Testing