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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 内容类型：外文期刊     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A novel anti-shock silicon etching apparatus for solving diaphragm release problems 外文期刊 2010 作者:  Ye, TC;  Xu, QX;  Jing, YP;  Ou, Y;  Chen, DP 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2010/11/26 High-Performance Si Nanowire Transistors on Fully Si Bulk Substrate From Top-Down Approach: Simulation and Fabrication 外文期刊 2010 作者:  Zhuge, J;  Tian, Y;  Wang, RS;  Huang, R;  Wang, YQ 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/11/26 Thermal-conductivity  Device-simulation  Mosfets  Layers   Design and optimization considerations for bulk gate-all-around nanowire MOSFETs 外文期刊 2009 作者:  Cai, XW;  Zhou, HJ;  Xu, QX;  Song, Y 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2010/11/26 Device-simulation  Cmos Devices  Silicon  Performance  Transistors  Fabrication  Diameter  Impact   Micro thermal shear stress sensor based on vacuum anodic bonding and bulk-micromachining 外文期刊 2008 作者:  Yi, L;  Ou, Y;  Shi, SL;  Ma, J;  Chen, DP 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2010/11/26 Two microthermal shear stress sensors: surface micromachined and bulk-bonding micromachined 外文期刊 2008 作者:  Shi, SL;  Yi, L;  Chen, DP;  Ou, Y;  Jing, YP 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/11/26 Thermal Flow Sensors  Sacrificial Layer  Dry Release   Quasi-SOI MOSFETs - A promising bulk device candidate for extremely scaled era 外文期刊 2007 作者:  Tian, Y;  Xiao, H;  Huang, R;  Feng, C;  Chan, M 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2010/11/26 Cmos Devices