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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 学科主题：Applied     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Total ionizing dose effects in elementary devices for 180-nm flash technologies 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2011, 卷号: 51, 期号: 8, 页码: 1295-1301 Hu,ZY; Liu,ZL; Shao,H; Zhang,ZX; Ning,BX; Chen,M; Bi,DW; Zou,SC 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/04/10 PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD   Comparison of TID response in core, input/output and high voltage transistors for flash memory 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2011, 卷号: 51, 期号: 6, 页码: 1148-1151 Liu,ZL; Hu,ZY; Zhang,ZX; Shao,H; Chen,M; Bi,DW; Ning,BX; Zou,SC 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/04/10 PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD   A study of silicon oxynitride film prepared by ion beam assisted deposition 期刊论文 MATERIALS LETTERS, 2004, 卷号: 58, 期号: 17-18, 页码: 2261-2265 Wang,YJ; Cheng,XL; Lin,ZL; Zhang,CS; Xiao,HB; Zhang,F; Zou,SC 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/03/24 RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY  WAVE-GUIDE  REFRACTIVE-INDEX  ON-INSULATOR  THIN-FILMS  AUGER-SPECTROSCOPY  INTEGRATED-OPTICS  NITRIDE FILMS  ELLIPSOMETRY  LAYERS