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金属研究所 [5]
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期刊论文 [5]
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2018 [2]
2017 [2]
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学科主题
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学科主题:Engineering, Electrical & Electronic
专题:金属研究所
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Fabrication of Ni-P coating film on diamond/Al composite and its soldering reliability
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2018, 卷号: 29, 期号: 10, 页码: 8371-8379
作者:
Shi, QY
;
Liu, ZQ
;
Wu, D
;
Zhang, H
;
Ni, DR
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2018/06/05
Al/diamond Composites
Thermal-conductivity
Coated Diamond
Heat Sinks
Densification
Microstructure
Mechanisms
Strength
Surface
Growth
Failure behavior of flip chip solder joint under coupling condition of thermal cycling and electrical current
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2018, 卷号: 29, 期号: 6, 页码: 5025-5033
作者:
Zhu, QS
;
Gao, F
;
Ma, HC
;
Liu, ZQ
;
Guo, JD
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2018/06/05
Stress-relaxation
Void Formation
Electromigration
Reliability
Sn
Interconnections
Thermomigration
Metallization
Mechanisms
Diffusion
Failure Mechanisms of SAC/Fe-Ni Solder Joints During Thermal Cycling
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2017, 卷号: 46, 期号: 8, 页码: 5338-5348
Gao, Li-Yin
;
Liu, Zhi-Quan
;
Li, Cai-Fu
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2017/08/17
Fe-Ni under bump metallization (UBM)
thermal cycling
microstructural evolution
lifetime
recrystallization
electron backscatter diffraction (EBSD)
A superior interfacial reliability of Fe-Ni UBM during high temperature storage
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2017, 卷号: 28, 期号: 12, 页码: 8537-8545
Gao, Li-Yin
;
Li, Cai-Fu
;
Wan, Peng
;
Liu, Zhi-Quan
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
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提交时间:2017/08/17
The reliability of copper pillar under the coupling of thermal cycling and electric current stressing
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2016, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 9748-9754
Ma, HC
;
Guo, JD
;
Chen, JQ
;
Wu, D
;
Liu, ZQ
;
Zhu, QS
;
Zhang, L
;
Guo, HY
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2016/12/28
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