QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 学科主题：Chemistry     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Role of the X and n factors in ion-irradiation induced phase transformations of M(n+1)AX(n) phases 期刊论文 ACTA MATERIALIA, 2018, 卷号: 144, 页码: 432-446 作者:  Huang, Qing;  Wang, Chenxu;  Yang, Tengfei;  Tracy, Cameron L.;  Xiao, Jingren 收藏  |  浏览/下载：138/0  |  提交时间：2018/12/04 Augmented-wave Method  Max Phases  Structural Transitions  Electronic-structure  Damage Evolution  Ti3alc2  Ti2alc  Ti3sic2  Ceramics  Ti4aln3   Microstructural evolution of epitaxial Ti3AlC2 film on sapphire under ion irradiation and nanoindentation-induced deformation 期刊论文 JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, 2018, 卷号: 509, 页码: 181-187 作者:  Wang, Ji;  Liu, Shaoshuai;  Ren, Donglou;  Shao, Tao;  Eklund, Per 收藏  |  浏览/下载：134/0  |  提交时间：2018/12/04 Accident Tolerant Fuels  Max Phases  Radiation Tolerance  Neutron-irradiation  m(n+1)Ax(n) Phases  Thin-films  Deposition  Ti3sic2  Ti2alc  Ceramics   Ion milling-induced micrometer-sized heterogeneities and partial crystallization in a TiZrCuFeBe bulk metallic glass 期刊论文 INTERMETALLICS, 2016, 卷号: 73, 页码: 5-11 Zhang, L.; Pauly, S.; Zhu, Z. W.; Gemming, T.; Fu, H. M.; Eckert, J.; Zhang, H. F. 收藏  |  浏览/下载：197/0  |  提交时间：2016/08/22 Metallic glasses  Glass transition and crystallization  Transmission electron microscopy  Irradiation effects  Ion-beam methods  Secondary ion mass spectrometry   Welding of multi-walled carbon nanotubes by ion beam irradiation 期刊论文 CARBON, 2008, 卷号: 46, 期号: 2, 页码: 376 Ni, ZC（倪志春）; Li, QT(李勤涛）; Yan, L（闫隆）; Gong, JL（巩金龙）; Zhu, DZ（朱德彰） 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/04/18 Structural change of carbon nanotubes produced by Si ion beam irradiation 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2007, 卷号: 260, 期号: 2, 页码: 542 Ni, ZC（倪志春）; Li, QT（李勤涛）; Gong, JL（巩金龙）; Zhu, DZ（朱德彰）; Zhu, ZY（朱志远） 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/05/09 carbon nanotubes  implantation  transmission electron microscopy  Raman spectroscopy  defects