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一种F-P滤光器腔长检测系统及检测方法 专利
专利号: ZL202310400552.0, 申请日期: 2023-07-07, 公开日期: 2023-07-07
作者:  马琳;  金振宇;  朱槿;  常亮
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激光扫描法测量天文光学零件面形的研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2016
作者:  覃瑛
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