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科研机构
半导体研究所 [5]
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期刊论文 [4]
会议论文 [1]
发表日期
2009 [1]
2008 [3]
1995 [1]
学科主题
半导体材料 [5]
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学科主题:半导体材料
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Bulge testing and fracture properties of plasma-enhanced chemical vapor deposited silicon nitride thin films
期刊论文
thin solid films, 2009, 卷号: 517, 期号: 6, 页码: 1989-1994
作者:
Li Y
收藏
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浏览/下载:360/38
  |  
提交时间:2010/03/08
Bulge test
Fracture property
Silicon nitride
Weibull distribution function
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes
会议论文
3rd ieee international conference of nano/micro engineered and molecular systems, sanya, peoples r china, jan 06-09, 2008
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/03/09
bulge test fracture property
silicon carbide thin films
Weibull distribution function
Study of GaN growth on ultra-thin Si membranes
期刊论文
solid-state electronics, 2008, 卷号: 52, 期号: 6, 页码: 986-989
Wang X
;
Wu AM
;
Chen J
;
Wang X
;
Wu YX
;
Zhu JJ
;
Yang H
收藏
  |  
浏览/下载:58/2
  |  
提交时间:2010/03/08
GaN
Fracture properties of silicon carbide thin films by bulge test of long rectangular membrane
期刊论文
journal of microelectromechanical systems, 2008, 卷号: 17, 期号: 2, 页码: 453-461
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/03/08
bulge test
fracture property
microelectromechanical systems (MEMS)
silicon carbide (SiC) thin films
Weibull distribution function
RESEARCH ON ELECTRICAL-PROPERTIES OF AMPHIPHILIC LIPID-MEMBRANES BY MEANS OF INTERDIGITAL ELECTRODES
期刊论文
materials science & engineering c-biomimetic materials sensors and systems, 1995, 卷号: 2, 期号: 3, 页码: 159-163
SUN AN
;
XU HY
;
CHEN ZK
;
CUI L
;
HAI XL
收藏
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浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2010/11/17
AMPHIPHILIC LIPID MEMBRANES
INTERDIGITAL ELECTRODES
ELECTRICAL PROPERTIES
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