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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 发表日期：2005    内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Inkjet device encapsulated at the wafer scale 专利 专利号: SG98224A1, 申请日期: 2005-08-31, 公开日期: 2003-09-19 作者:  SILVERBROOK, KIA 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/23 Monolithic wafer-scale waveguide-laser 专利 专利号: WO2005078874A1, 申请日期: 2005-08-25, 公开日期: 2005-08-25 作者:  CUMBO, MICHAEL, J. 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/30 Monolithic wafer-scale waveguide-laser 专利 专利号: WO2005078874A1, 申请日期: 2005-08-25, 公开日期: 2005-08-25 作者:  CUMBO, MICHAEL, J. 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/30 一种带有自适应性以及高速turbo解码器的设计方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN1652471A, 申请日期: 2005-08-10, 公开日期: 2009-09-16 作者:  许树湛;  韦恩·斯塔克 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2013/10/15 一种带有自适应性以及高速turbo解码器的设计方法 专利 专利类型: 发明授权, 专利号: CN100542050C, 申请日期: 2005-08-10, 公开日期: 2009-09-16 作者:  许树湛;  韦恩·斯塔克 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2014/04/15 Temperature controlling circuit for a semiconductor light-emitting device 专利 专利号: US20050109041A1, 申请日期: 2005-05-26, 公开日期: 2005-05-26 作者:  TANAKA, KEIJI 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/31 Optical probe for wafer scale testing of light-electrical (l-i-v) performance of opto electronic devices 专利 专利号: US20050047715A1, 申请日期: 2005-03-03, 公开日期: 2005-03-03 作者:  LAM, YEE LOY;  CHAN, YUEN CHUEN;  CHOO, LAY CHENG;  NG, SENG LEE 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/30 Scale template used for pyramidal tract X-rays CT system is prepared through inlaying 4 point-shaped metallic balls in the 4 apex points of a quadrate on an organic glass or drilling 4 orifices at said 4 apex points on a metallic plate. 专利 申请日期: 2005-01-01, 公开日期: 2005-11-09 作者:  SUN Y HOU Y ZHAO F 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/02