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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2004     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Annealing ambient controlled deep defect formation in InP 会议论文 10th international conference on defects - recognition, imaging and physics in semiconductors (drip 10), batz sur mer, france, sep 29-oct 02, 2003 Zhao YW; Dong ZY; Duan ML; Sun WR; Zeng YP; Sun NF; Sun TN 收藏  |  浏览/下载：20/1  |  提交时间：2010/10/29 FE-DOPED INP  SEMIINSULATING INP  POINT-DEFECTS  PRESSURE  WAFERS  TRAPS