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浏览/检索结果: 共12条，第1-10条 帮助 限定条件 发表日期：2004    内容类型：其他    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 DPA(TCNQ)_2的烧孔阈值电压对脉宽的依赖关系 其他 2004-01-01 于学春; 张然; 彭海琳; 张莹莹; 刘忠范 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/10/24 DPA(TCNQ)2(dipropylamine tetracyanoquinodimethane)  DPA(TCNQ)(2)  STM high resolution image  field-induced evaporation  thermochemical hole burning mechanism  高分辨STM图像  场致蒸发  热化学烧孔机理   银纳米颗粒形成过程中的光致发光性质研究(英文) 其他 2004-01-01 何平; 沈兴海; 高宏成 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/10/24 光致发光  银  纳米颗粒  原子簇  γ-辐照  photoluminescence  silver  nanoparticle  cluster  gamma-irradiation   一种计算量小的构造合理最紧缩定域轨道的方法 其他 2004-01-01 冯华升; 卞江; 黎乐民 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/10/24 非正交定域轨道  自然键轨道  轨道延伸度  合理最紧缩定域轨道  non-orthogonalized localized orbitals  natural bond orbitals  orbital spread  reasonable and most contracted localized orbitals   QoS analysis on Web Service based spatial integration 其他 2004-01-01 Luo, YW; Liu, XP; Wang, WJ; Wang, XL; Xu, ZQ 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 Conductivity to first SBD of a stress induced leakage path in ultrathin thermal oxides 其他 2004-01-01 Xu, MZ; Tan, CH; He, YD 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 dielectric breakdown  gate oxide  MOS devices  reliability  GATE OXIDES  BREAKDOWN   TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack 其他 2004-01-01 Yang, H; Sa, N; Tang, L; Liu, XY; Kang, JF; Han, RQ; Yu, HY; Ren, C; Li, MF; Chan, DSH; Kwong, DL 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs 其他 2004-01-01 Wang, YG; Shi, K; Jia, GS; Xu, MZ; Tan, CH; Duan, XR 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 substrate current  soft breakdown  ultra-thin gate oxide  Weibull distribution  variable frequency light pumping  LAYERS   TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack 其他 2004-01-01 Yang, Hong; Sa, Ning; Tang, Liang; Liu, Xiaoyan; Kang, Jinfeng; Han, Ruqi; Yu, H.Y.; Ren, C.; Li, M.-F.; Chan, D.S.H.; Kwong, D.-L. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 Conductivity to first SBD of a stress induced leakage path in ultrathin thermal oxides 其他 2004-01-01 Xu, Mingzhen; Tan, Changhua; He, Yandong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs 其他 2004-01-01 Wang, Yangang; Shi, Kai; Jia, Gaosheng; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua; Duan, Xiaorong 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13