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科研机构
北京大学 [4]
计算技术研究所 [1]
半导体研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [5]
会议论文 [1]
发表日期
2001 [6]
学科主题
微电子学 [1]
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发表日期:2001
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A loop-based apparatus for at-speed self-testing
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 16, 期号: 3, 页码: 278-285
作者:
Li, XW
;
Cheung, PYS
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/16
built-in self-test
at-speed test
multiple input shift register
state transition graph
基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成
期刊论文
计算机学报, 2001
李兆麟
;
叶以正
;
毛志刚
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/10/23
基于扫描的内建自测试
多扫描链
线性反馈移位寄存器
最小相关度
面向对象软件回归测试技术研究
期刊论文
软件学报, 2001
杨芙清
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/11
面向对象
增量层次模型
程序切片
数据流
回归测试
Test pattern generation in built-in self-test with multiple scan chains
期刊论文
jisuanji xuebaochinese journal of computers, 2001
Li, Z.L.
;
Ye, Y.Z.
;
Mao, Z.G.
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/17
Approach to object-oriented software regression testing
期刊论文
ruan jian xue baojournal of software, 2001
Fang, F.
;
Sun, J.S.
;
Wang, L.F.
;
Yang, F.Q.
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
Scan test in 18x8 bits Booth Coding-Wallace Tree multiplier
会议论文
4th international conference on asic, shanghai, peoples r china, oct 23-25, 2001
Wang DH
;
Ruan J
;
Li YG
;
Hou CH
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2010/10/29
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