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科研机构
半导体研究所 [5]
北京大学 [1]
金属研究所 [1]
上海微系统与信息技术... [1]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2001 [8]
学科主题
Engineerin... [1]
半导体材料 [1]
半导体物理 [1]
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共8条,第1-8条
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发表日期:2001
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90
95
100
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Investigation of weak damage in al0.25ga0.75as/gaas by using rbs/c and raman spectroscopy
期刊论文
Physics letters a, 2001, 卷号: 286, 期号: 5, 页码: 332-337
作者:
Liu, PJ
;
Lu, GW
;
Liu, XD
;
Xia, YY
;
Chen, Y
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浏览/下载:53/0
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提交时间:2019/05/12
Epitaxy
Ion implantation
Raman scattering
Strain
Hrxrd
Mnsi similar to 1.73 grown on silicon with mass-analyzed low energy dual ion beam epitaxy technique
期刊论文
Journal of crystal growth, 2001, 卷号: 226, 期号: 4, 页码: 517-520
作者:
Yang, JL
;
Chen, NF
;
Liu, ZK
;
Yang, SY
;
Chai, CL
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2019/05/12
X-ray diffraction
Ion beam epitaxy
Semiconducting manganese silicide
Influence of ion energy and deposition temperature on the surface morphology of carbon films deposited by ion beams
期刊论文
Acta physica sinica, 2001, 卷号: 50, 期号: 7, 页码: 1324-1328
作者:
Liao, MY
;
Qin, FG
;
Chai, CL
;
Liu, ZK
;
Yang, SY
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2019/05/12
Amorphous carbon
Surface morphology
Mass-selected low energy ion beam deposition
Radiation damage and wettability change of low energy C+ implanted polytetrafluoroethylene
期刊论文
Materials Science and Engineering B-Solid State Materials for Advanced Technology, 2001, 卷号: 84, 期号: 3, 页码: 200-204
J. Z. Zhang
;
X. Y. Ye
;
X. J. Yu
;
H. D. Li
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2012/04/14
ion implantation
PTFE
carbon ion
wettability
current ion-source
Infrared emission from Si implanted with high Er concentration
期刊论文
中国物理英文版, 2001
Xiao, ZS
;
Xu, F
;
Zhang, TH
;
Cheng, GA
;
Xie, DT
;
Gu, LL
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/11
erbium
silicon
ion implantation
photoluminescence
LIGHT-EMISSION
SILICON
Effect of implantation energy on the microstructure evolution of low dose separation of implanted oxygen wafers
期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2001, 卷号: 19, 期号: 2, 页码: 337-343
Chen, M
;
Chen, J
;
Zheng, W
;
Li, L
;
Mu, HC
;
Lin, ZX
;
Yu, YH
;
Wang, X
;
Wang, GY
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2012/03/24
ION-IMPLANTATION
LAYER FORMATION
SIMOX
SILICON
MnSi similar to 1.73 grown on silicon with mass-analyzed low energy dual ion beam epitaxy technique
期刊论文
journal of crystal growth, 2001, 卷号: 226, 期号: 4, 页码: 517-520
Yang JL
;
Chen NF
;
Liu ZK
;
Yang SY
;
Chai CL
;
Liao MY
;
He HJ
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浏览/下载:112/13
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提交时间:2010/08/12
X-ray diffraction
ion beam epitaxy
semiconducting manganese silicide
SEMICONDUCTING SILICIDES
THIN-FILMS
Influence of ion energy and deposition temperature on the surface morphology of carbon films deposited by ion beams
期刊论文
acta physica sinica, 2001, 卷号: 50, 期号: 7, 页码: 1324-1328
Liao MY
;
Qin FG
;
Chai CL
;
Liu ZK
;
Yang SY
;
Yao ZY
;
Wang ZG
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浏览/下载:127/13
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提交时间:2010/08/12
amorphous carbon
surface morphology
mass-selected low energy ion beam deposition
TETRAHEDRAL AMORPHOUS-CARBON
BIAS-ENHANCED NUCLEATION
ATOMIC-FORCE MICROSCOPY
DIAMOND-LIKE CARBON
SILICON
GROWTH
MODEL
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