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单原子离子溶剂化的研究 Ⅱ.离子溶剂化吉布斯自由能的理论计算 期刊论文
物理化学学报, 1986
张有民; 赵新生
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FREQUENCY DEPENDENCE OF CAPACITANCE DERIVATIVE IN MOS CAPACITOR - A NEW METHOD FOR DETERMINE THE DENSITIES AND CAPTURE C ROSS SECTION OF THE SURFACE STATE AT THE Si-SiO2 INTERFACE. 期刊论文
pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 1986
Xu Mingzhen; Tan Changhua
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