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8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理 期刊论文
光学学报, 2019, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 41-49
作者:  汪波;  王立恒;  刘伟鑫;  孔泽斌;  李豫东
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2019/07/01
CVD法单层MoS_2在~(209)Bi 离子辐照下的损伤效应研究 期刊论文
原子核物理评论, 2018, 卷号: 35, 期号: 1, 页码: 72-77
作者:  吴杨;  孙友梅;  刘杰;  翟鹏飞;  郭航
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2021/12/13
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2017
作者:  周航
收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2017/09/26
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017
作者:  周航
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2017/09/26

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