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Probing process-induced defects in Si using infrared photoelastic stress measurement technique (EI收录)
会议论文
Materials Research Society Symposium Proceedings, San Francisco, CA, United states, March 28, 2005 - April 1, 2005
作者:
Liu, X.H.[1,3]
;
Wong, S.P.[1,3]
;
Peng, H.J.[1]
;
Ke, N.[1,3]
;
Zhao, Shounan[2]
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提交时间:2019/04/18
Birefringence
Photoelasticity
Silicon
Stress analysis
Stress distribution in ultra thin SiO2 film/Si substrate system measured by a low level birefringence detection technique (EI收录)
会议论文
Materials Research Society Symposium Proceedings, San Francisco, CA, United states, April 13, 2004 - April 16, 2004
作者:
Liu, X.H.[1]
;
Peng, H.J.[1]
;
Wong, S.P.[1]
;
Zhao, Shounan[2]
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提交时间:2019/04/18
Bimetals
Birefringence
Elastic moduli
Light sources
Oxidation
Phase interfaces
Poisson ratio
Stress concentration
Strip metal
Substrates
Thermal effects
Thermal expansion
Ultrathin films
Vectors
Low level birefringence detection system for stress measurement in semiconductors (EI收录)
会议论文
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Munich, Germany, June 23, 2003 - June 26, 2003
作者:
Peng, H.J.[1]
;
Wong, S.P.[1]
;
Liu, X.H.[1]
;
Lai, Y.W.[1]
;
Ho, H.P.[1]
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提交时间:2019/04/19
Angle measurement
Light modulation
Photoelasticity
Semiconducting silicon
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