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A highland-adaptation mutation of the Epas1 protein increases its stability and disrupts the circadian clock in the 期刊论文
CELL REPORTS, 2022, 卷号: 39, 期号: 7
作者:  Liu, N;  Tian, HN;  Yu, ZQ;  Zhao, HJ;  Li, WJ
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2022/12/02
Fast surface dynamics enabled cold joining of metallic glasses 期刊论文
SCIENCE ADVANCES, 2019, 卷号: 5, 期号: 11, 页码: 9
作者:  Ma J;  Yang C;  Liu XD;  Shang BS;  He QF
收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2020/03/11
iProX: an integrated proteome resource 期刊论文
NUCLEIC ACIDS RESEARCH, 2019, 卷号: Vol.47 D1, 页码: D1211-D1217
作者:  Ma, J;  Chen, T;  Wu, SF;  Yang, CY;  Bai, MZ
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/17
Effect of Pseudomonas sp on the degradation of aluminum/epoxy coating in seawater 期刊论文
JOURNAL OF MOLECULAR LIQUIDS, 2018, 卷号: 263, 页码: 248-254
作者:  Feng, TT;  Wu, JY;  Chai, K;  Liu, FC
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/12/25
Origin of negative resistance in anion migration controlled resistive memory 期刊论文
Appl. Phys. Lett., 2018
作者:  Writam Banerjee;  Wu FC(伍法才);  Hu Y(胡媛);  Wu QT(吴全潭);  Wu ZH(吴祖恒)
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/04/18
A study on bacteria-assisted cracking of X80 pipeline steel in soil environment 期刊论文
CORROSION ENGINEERING SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 53, 期号: 4, 页码: 265-275
作者:  Wu, TQ;  Sun, C;  Xu, J;  Yan, MC;  Yin, FC
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/12/25
Negative differential resistance effect induced by metal ion implantation in SiO2 film for multilevel RRAM application 期刊论文
Nanotechnology, 2018
作者:  Wu FC(伍法才);  shuyao Si;  Shi T(时拓);  Zhao XL(赵晓龙);  Liu Q(刘琦)
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/04/10
Heterostructured filler in mixed matrix membranes to coordinate physical and chemical selectivities for enhanced CO2 separation 期刊论文
JOURNAL OF MEMBRANE SCIENCE, 2018, 卷号: 567, 页码: 272-280
作者:  Cao XZ(曹兴忠);  Zhang, N;  Wu, H;  Li, FC;  Dong, SY
收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2019/09/24
Determination of the number of ψ(3686)events at BESⅢ 期刊论文
Chinese Physics C, 2018, 卷号: 第42卷 第2期, 页码: 7-17
作者:  Mai DN(麦迪娜);  M.N.Achasov;  Ai XC(艾小聪);  D.J.Ambrose;  A.Amoroso
收藏  |  浏览/下载：77/0  |  提交时间：2019/12/26
Improvement of Device Reliability by Introducing a BEOL-Compatible TiN Barrier Layer in CBRAM 期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
作者:  Cao RR(曹荣荣);  Liu M(刘明);  Long SB(龙世兵);  Lv HB(吕杭炳);  Wang Y(王艳)
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2018/07/12

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