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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Software-Based Self-Testing Using Bounded Model Checking for Out-of-Order Superscalar Processors 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 714-727 作者:  Zhang, Ying;  Chakrabarty, Krishnendu;  Peng, Zebo;  Rezine, Ahmed;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2020/12/10 Circuit faults  Built-in self-test  Out of order  Model checking  Integrated circuit modeling  Bounded model checking (BMC)  online testing  out-of-order superscalar processors  software-based self-testing (SBST)