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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An Experimental Analysis of Residual Stress Measurements inPorous Silicon Using Micro-Raman Spectroscopy 期刊论文 Chinese Physics Letters, 2004, 卷号: Vol.21 No.2 作者:  Lei, Z.-K.a;  Kang, Y.-L.a;  Hu, M.b;  Qiu, Y.Yua;  Xu, H.a 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/21