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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Step-down accelerated aging test for LED lamps based on nelson models 期刊论文 Optik, 2017, 卷号: 149 作者:  Hao, J.;  D. M. Li;  C. D. He;  Q. Sun and H. L. Ke 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2018/06/13 Determination of cut-off time of accelerated aging test under temperature stress for LED lamps 期刊论文 Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2017, 卷号: 18, 期号: 8 作者:  Hao, J.;  L. Jing;  H. L. Ke;  Y. Wang;  Q. Gao 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2018/06/13 A new optimization method of freeform surface lens based on non-imaging optics for led source 期刊论文 Optik, 2017, 卷号: 134 作者:  Hao, J.;  H. L. Ke;  Y. Wang;  L. Jing;  H. Liu 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2018/06/13 Disparity between online and offline tests in accelerated aging tests of LED lamps under electric stress 期刊论文 Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 27 作者:  Wang, Y.;  L. Jing;  H. L. Ke;  J. Hao;  Q. Gao 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2017/09/11 The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress 期刊论文 Ieee Transactions on Electron Devices, 2016, 卷号: 63, 期号: 3 作者:  Hao, J.;  Q. Sun;  Z. J. Xu;  L. Jing;  Y. Wang and H. L. Ke 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2017/09/11 Estimation of the average junction temperature of two phosphors-converted white LED array based on (B plus Y plus R)/B ratio 期刊论文 Solid-State Electronics, 2016, 卷号: 121 作者:  Ke, H. L.;  L. Jing;  J. Hao;  Q. Gao;  Y. Wanga 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2017/09/11 New method of online testing and data processing for LED lamps 期刊论文 Journal of Southeast University (English Edition), 2016, 卷号: 32, 期号: 4 作者:  Hao, J.;  L. Jing;  H. Ke;  Y. Wang;  Q. Gao 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2017/09/11 Analysis of junction temperature and modification of luminous flux degradation for white LEDs in a thermal accelerated reliability test 期刊论文 Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 22 作者:  Ke, H. L.;  L. Jing;  J. Hao;  Q. Gao;  Y. Wang 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2017/09/11 Comparison of online and offline tests in LED accelerated reliability tests under temperature stress 期刊论文 Applied Optics, 2015, 卷号: 54, 期号: 33, 页码: 9906-9910 作者:  Ke, H. L.;  L. Jing;  Q. Gao;  Y. Wang;  J. Hao 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2016/07/15