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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Vcsel based optical links in burst mode 专利 专利号: US20180287707A1, 申请日期: 2018-10-04, 公开日期: 2018-10-04 作者:  CEVRERO, ALESSANDRO;  KUCHTA, DANIEL M.;  MENOLFI, CHRISTIAN I.;  MORF, THOMAS E.;  OZKAYA, ILTER 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/30 Guides lithographically fabricated on semiconductor devices 专利 专利号: US6798953, 申请日期: 2004-09-28, 公开日期: 2004-09-28 作者:  COHEN, MITCHELL S.;  CORDES, MICHAEL J.;  CORDES, STEVEN A.;  HOGAN, WILLIAM K.;  JOHNSON, GLEN W. 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/26 Guides lithographically fabricated on semiconductor devices 专利 专利号: US6798953, 申请日期: 2004-09-28, 公开日期: 2004-09-28 作者:  COHEN, MITCHELL S.;  CORDES, MICHAEL J.;  CORDES, STEVEN A.;  HOGAN, WILLIAM K.;  JOHNSON, GLEN W. 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/12/26 Method of semiconductor wafer testing 专利 专利号: US6013537, 申请日期: 2000-01-11, 公开日期: 2000-01-11 作者:  KUCHTA, DANIEL M. 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/24 Semiconductor wafer testing method and apparatus 专利 专利号: US5891746, 申请日期: 1999-04-06, 公开日期: 1999-04-06 作者:  KUCHTA, DANIEL M. 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/26