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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 ESD robustness improving for the low-voltage triggering silicon-controlled rectifier by adding NWell at cathode 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2018, 卷号: 139, 页码: 69-74 作者:  Jin, Xiangliang[1];  Zheng, Yifei[2];  Wang, Yang[3];  Guan, Jian[4];  Hao, Shanwan[5] 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/04/24 LVTSCR  Robustness  Failure current  Holding voltage