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Breakdown enhancement of diamond Schottky barrier diodes using boron implanted edge terminations
期刊论文
DIAMOND AND RELATED MATERIALS, 2019, 卷号: 92, 页码: 146-149
作者:
Yu, Xinxin
;
Zhou, Jianjun
;
Wang, Yanfeng
;
Qiu, Feng
;
Kong, Yuechan
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/11/19
Diamond
Boron implant
Schottky diode
Edge termination
Preparation of graphene/copper composites using solution-combusted porous sheet-like cuprous oxide
期刊论文
Journal of Materials Science, 2019, 卷号: Vol.54 No.1, 页码: 396-403
作者:
Fan, Zefu
;
Chen, Tangsheng
;
Chen, Xiaohua
;
Xu, Longshan
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浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/12/13
Preparation of graphene/copper composites using solution-combusted porous sheet-like cuprous oxide
期刊论文
Journal of Materials Science, 2019, 卷号: Vol.54 No.1, 页码: 396-403
作者:
Fan, Zefu
;
Chen, Tangsheng
;
Chen, Xiaohua
;
Xu, Longshan
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/12/13
Preparation of graphene/copper composites using solution-combusted porous sheet-like cuprous oxide.
期刊论文
Journal of Materials Science, 2019, 卷号: Vol.54 No.1, 页码: 396-403
作者:
Fan, Zefu
;
Chen, Tangsheng
;
Chen, Xiaohua
;
Xu, Longshan
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/12/13
Preparation of graphene/copper composites using solution-combusted porous sheet-like cuprous oxide
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, 2019, 卷号: Vol.54 No.1, 页码: 396-403
作者:
Fan, Zefu
;
Chen, Tangsheng
;
Chen, Xiaohua
;
Xu, Longshan
收藏
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浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/17
Preparation of graphene/copper composites using solution-combusted porous sheet-like cuprous oxide
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, 2019, 卷号: Vol.54 No.1, 页码: 396-403
作者:
Fan, Zefu
;
Chen, Tangsheng
;
Chen, Xiaohua
;
Xu, Longshan
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/12/13
High f(T) AlGa(In)N/GaN HEMTs Grown on Si With a Low Gate Leakage and a High ON/OFF Current Ratio
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2018
作者:
Zhu, Guangrun
;
Gao, Hongwei(高宏伟)
;
Sun, Qian(孙钱)
;
Chen, Tangsheng
;
Yang, Hui(杨辉)
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浏览/下载:85/0
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提交时间:2019/03/27
Positive Shift in Threshold Voltage Induced by CuO and NiOxGate in AlGaN/GaN HEMTs
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, 卷号: 64, 期号: 8
作者:
Wang, Jingli
;
Zou, Xuming
;
Zhang, Kai
;
Guo, Yaxiong
;
Li, Yi
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/05
Positive Shift in Threshold Voltage Induced by CuO and NiOx Gate in AlGaN/GaN HEMTs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017, 卷号: 64, 期号: 8
作者:
Li, Yi
;
Guo, Yaxiong
;
Zhang, Kai
;
Zou, Xuming
;
Wang, Jingli
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/05
AlGaN/GaN
CuO gate
NiOx gate
p-type metal oxide
threshold voltage
Positive Shift in Threshold Voltage Induced by CuO and NiOxGate in AlGaN/GaN HEMTs
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, 卷号: 64, 期号: 8
作者:
Li, Yi
;
Guo, Yaxiong
;
Zhang, Kai
;
Zou, Xuming
;
Wang, Jingli
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/05
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