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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Accelerated Aging in Analog and Digital Circuits With Feedback 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2015 Sutaria, Ketul B.; Mohanty, Abinash; Wang, Runsheng; Huang, Ru; Cao, Yu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 Circuit aging  bias runaway  BTI  CHC  DVS  aging models and simulation framework  BIAS TEMPERATURE INSTABILITY  HOT-CARRIER DEGRADATION  DEEP-SUBMICRON NMOSFETS  E-E SCATTERING  NBTI  RELIABILITY  SIMULATION  DESIGN  CROSS  MODEL   Unified Reaction-Diffusion Model for Accurate Prediction of Negative Bias Temperature Instability Effect 期刊论文 日本应用物理学杂志, 2012 Ma, Chenyue; Mattausch, Hans Juergen; Miyake, Masataka; Matsuzawa, Kazuya; Iizuka, Takahiro; Yamaguchi, Seiichiro; Hoshida, Teruhiko; Kinoshita, Akinari; Arakawa, Takahiko; He, Jin; Miura-Mattausch, Mitiko 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 NBTI DEGRADATION  TRAP GENERATION  P-MOSFETS  INTERFACE   A Discriminative Model for Age Invariant Face Recognition 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INFORMATION FORENSICS AND SECURITY, 2011, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 1028-1037 作者:  Zhifeng Li;  Unsang Park;  Anil K. Jain 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/08/25