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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Generation Method for Test Patterns with Low Power and Low Cost 期刊论文 Hsi-An Chiao Tung Ta Hsueh/Journal of Xi'an Jiaotong University, 2017, 卷号: 51, 页码: 14-21 and 48 作者:  Wang, Ye;  Liang, Feng;  Yan, Dan;  Lei, Shaochong 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/11/26 Fault coverages  Hardware implementations  Hardware overheads  Linear feedback shift registers  Low-power consumption  Single input changes  Test Pattern  Test pattern generations