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A FinFET with one atomic layer channel
期刊论文
NATURE COMMUNICATIONS, 2020, 卷号: 11
作者:
Chen, Mao-Lin
;
Sun, Xingdan
;
Liu, Hang
;
Wang, Hanwen
;
Zhu, Qianbing
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  |  
浏览/下载:26/0
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提交时间:2020/11/23
TID Response of Bulk Si PMOS FinFETs: Bias, Fin Width, and Orientation Dependence
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 7, 页码: 1320-1325
作者:
Ren, ZX (Ren, Zhexuan)[ 1 ]
;
An, X (An, Xia)[ 1 ]
;
Li, GS (Li, Gensong)[ 1 ]
;
Chen, G (Chen, Gong)[ 1 ]
;
Li, M (Li, Ming)[ 1 ]
收藏
  |  
浏览/下载:35/0
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提交时间:2020/09/09
Bulk Si FinFET
fin width
orientation
PMOS
threshold voltage shift
total ionizing dose (TID)
Miniaturization of CMOS
期刊论文
MICROMACHINES, 2019, 卷号: 10
作者:
Radamson, Henry H.
;
He, Xiaobin
;
Zhang, Qingzhu
;
Liu, Jinbiao
;
Cui, Hushan
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2019/12/30
FinFETs
CMOS
device processing
integrated circuits
Exploring the Designs of p-Type Piezoelectric FinFETs Based on NEGF Transport Simulations Comprising Phonon Scattering
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 卷号: 66, 期号: 11, 页码: 4982-4988
作者:
Yuxiong Long
;
Jun Z. Huang
;
Qianqian Huang
;
Member,IEEE
;
Nuo Xu
;
Member,IEEE
;
Xiangwei Jiang
;
Member,IEEE
;
Zhi-Chuan Niu
;
David Esseni
;
Fellow,IEEE
;
Ru Huang
;
Fellow,IEEE
;
Shu-Shen Li
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2020/07/30
Exploring the Designs of p-Type Piezoelectric FinFETs Based on NEGF Transport Simulations Comprising Phonon Scattering
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 卷号: 66, 期号: 11, 页码: 4982-4988
作者:
Yuxiong Long
;
Jun Z. Huang
;
Qianqian Huang
;
Member,IEEE
;
Nuo Xu
;
Member,IEEE
;
Xiangwei Jiang
;
Member,IEEE
;
Zhi-Chuan Niu
;
David Esseni
;
Fellow,IEEE
;
Ru Huang
;
Fellow,IEEE
;
Shu-Shen Li
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2020/07/30
A Study of High-Low Frequency Charge Pumping Method on Evaluating Interface Traps in Bulk FinFETs
期刊论文
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018
作者:
Ying Jin
;
Yangyu Tian
;
Kun Chen
;
Jun Luo
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/05/20
Revised Analysis of Design Options and Minimum Subthreshold Swing in Piezoelectric FinFETs
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2018, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 444-447
作者:
Hongjuan Wang
;
Xiangwei Jiang
;
Member, IEEE
;
Nuo Xu
;
Member, IEEE
;
Genquan Han
;
Member, IEEE
;
Yue Hao
;
Senior Member, IEEE
;
Shu-Shen Li
;
David Esseni
;
Fellow, IEEE
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2019/11/18
Effects of ultra-thin Si-fin body widths upon SOI PMOS FinFETs
期刊论文
MODERN PHYSICS LETTERS B, 2018, 卷号: 32, 期号: 15
作者:
Liaw, Yue-Gie
;
Chen, Chii-Wen
;
Liao, Wen-Shiang
;
Wang, Mu-Chun
;
Zou, Xuecheng
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/05
SOI FinFET
threshold voltage (V-t)
drive current
short channel effect (SCE)
swing
transconductance (G(m))
drain-induced barrier lowering (DIBL)
source/drain resistance (R-SD)
FinFETs on Insulator with Silicided Source/Drain
会议论文
作者:
Zhu HL(朱慧珑)
;
Zhao C(赵超)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Zhong HC(钟汇才)
;
Zhang QZ(张青竹)
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2018/07/26
Optimization of Selective Growth of SiGe for Source/Drain in 14nm and Beyond Nodes FinFETs
期刊论文
International Journal of High Speed Electronics and Systems, 2017
作者:
Henry Homayoun Radamson
;
Zhu HL(朱慧珑)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Qin ZL(秦长亮)
;
Luo J(罗军)
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2018/07/05
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