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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Charge Trapping Model for Temporal Threshold Voltage Shift in a-IGZO TFTs Considering Variations of Carrier Density in Channel and Electric Field in Gate Insulator 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2015 Wang, Lisa Ling; He, Hongyu; Liu, Xiang; Deng, Wei; Zhang, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 Channel carrier density  oxide electric field  thin-film transistors (TFTs)  threshold voltage shift  THIN-FILM TRANSISTORS  BIAS-STRESS  CONDUCTION  INSTABILITIES   Study on the instability of organic field-effect transistors based on fluorinated copper phthalocyanine 期刊论文 thin solid films, 2004, 卷号: 450, 期号: 2, 页码: 316-319 Yuan JF; Zhang JD; Wang J; Yan DH; Xu W 收藏  |  浏览/下载：149/31  |  提交时间：2010/08/17 THIN-FILM TRANSISTORS  CHARGE TRAPPING INSTABILITIES  TRANSPORT