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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种集成电路性能测量及电路实验装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN02280449.8, 申请日期: 2003-10-01, 公开日期: 2003-10-01 龚德俊; 朱素兰; 李思忍; 徐永平; 于新生 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2014/08/04 1.一种集成电路性能测量及电路实验装置  至少1块用于接插集成块和电子元件的母板(3)  至少2个用于固定母板(3)的固定块(2)  至少1个固定条(7)  其特征在于包括：基板(1)  其上设有印刷线路即导体(4)  插装在所述固定导槽里  通过固定孔(6)安装在基板(1)上  其上设有多个固定孔(6)  并同时将母板(3)安装在基板(1)上  用于固定整体结构。  上表面均设至少2个固定导槽  于固定导槽之间