QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Design and verification of universal evaluation system for single event effect sensitivity measurement in very-large-scale integrated circuits 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2019, 卷号: 16, 期号: 10, 页码: 6 作者:  Xu, Liewei;  Cai, Chang;  Liu, Tianqi;  Ke, Lingyun;  Yu, Jun 收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2019/11/10 FPGA  single event effects  heavy ions  irradiation