QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：沈阳自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Detection and real-time correction of faulty visual feedback in atomic force microscopy based nanorobotic manipulation 会议论文 IEEE International Conference on Robotics and Automation, Pasadena, CA, May 19-23, 2008 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Xi N(席宁);  Luo, Yilun;  Wang YC(王越超);  Zhang JB(张江波) 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/06/06 Sensor Referenced Real-Time Videolization of Atomic Force Microscopy for Nanomanipulations 期刊论文 IEEE/ASME Transactions on Mechatronics, 2008, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 76-85 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Yilun Luo;  Xi N(席宁);  Wang YC(王越超);  Zhang JB(张江波) 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/05/29 atomic force microscopy (AFM)  fault detection  local scan  nanomanipulation   Real-time state estimation and fault detection for controlling atomic force microscope based Nano Manipualtion 会议论文 The 17th International Federation of Automatic Control (IFAC) World Congress, Seoul, Korea, July 6-11, 2008 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Xi N(席宁);  Luo, Yilun;  Zhang JB(张江波);  Li GY(李广勇) 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2012/06/06 Atomic force microscopy  Fault detection  Micromanipulators  Microsystems  Nanotechnology  Robotics  Technology  Visual communication   Sensor Referenced Real-Time Videolization of Atomic Force Microscopy for Nanomanipulations 期刊论文 IEEE/ASME Transactions on Mechatronics, 2008, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 76-85 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Yilun Luo;  Wang YC(王越超);  Zhang JB(张江波);  Li GY(李广勇) 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/05/29 Atomic Force Microscopy (Afm)  Fault Detection  Local Scan  Nanomanipulation   Detection and real-time correction of faulty visual feedback in atomic force microscopy based nanorobotic manipulation 会议论文 Pasadena, CA, May 19-23, 2008 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Luo, Yilun;  Wang YC(王越超);  Zhang JB(张江波);  Li GY(李广勇) 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2012/06/06 Real-time state estimation and fault detection for controlling atomic force microscope based Nano Manipualtion 会议论文 Seoul, Korea, July 6-11, 2008 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Luo, Yilun;  Zhang JB(张江波);  Li GY(李广勇);  Wang YC(王越超) 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2012/06/06 Atomic Force Microscopy  Fault Detection  Micromanipulators  Microsystems  Nanotechnology  Robotics  Technology  Visual Communication