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半导体研究所 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
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2012 [3]
学科主题
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微电子学 [1]
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Carriers capturing of V-defect and its effect on leakage current and electroluminescence in InGaN-based light-emitting diodes
期刊论文
applied physics letters, 2012, 卷号: 101, 期号: 25, 页码: 252110
Le, L.C
;
Zhao, D.G
;
Jiang, D.S
;
Zhang, S.M
;
Yang, H
;
Li, L
;
Wu, L.L
;
Chen, P
;
Liu, Z.S
;
Li, Z.C
;
Fan, Y.M
;
Zhu, J.J
;
Wang, H
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提交时间:2013/04/19
In-situ SEM investigation of sub-microscale deformation fields around a crack-tip in silicon
期刊论文
optics and lasers in engineering, 2012, 卷号: 50, 期号: 12, 页码: 1694-1698
Li, J.J
;
Zhao, C.W
;
Xing, Y.M
;
Hou, X.H
;
Fan, Z.C
;
Jin, Y.J
;
Wang, Y
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提交时间:2013/05/07
Carriers capturing of V-defect and its effect on leakage current and electroluminescence in InGaN-based light-emitting diodes
期刊论文
applied physics letters, 2012, 卷号: 101, 期号: 25, 页码: 252110
Le, L.C
;
Zhao, D.G
;
Jiang, D.S
;
Zhang, S.M
;
Yang, H
;
Li, L
;
Wu, L.L
;
Chen, P
;
Liu, Z.S
;
Li, Z.C
;
Fan, Y.M
;
Zhu, J.J
;
Wang, H
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提交时间:2013/04/19
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