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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：湖南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Tracking sodium migration in TiS2 using in situ TEM 期刊论文 NANOSCALE, 2019, 卷号: Vol.11 No.15, 页码: 7474-7480 作者:  Han, B;  Chen, SL;  Zou, J;  Shao, RW;  Dou, ZP 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/17 Robust production of 2D quantum sheets from bulk layered materials 期刊论文 MATERIALS HORIZONS, 2019, 卷号: Vol.6 No.7, 页码: 1416-1424 作者:  Xu, YQ;  Chen, SL;  Dou, ZP;  Ma, YH;  Mi, Y 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/17 Atomic-Scale Probing of Reversible Li Migration in 1T-V1+xSe2 and the Interactions between Interstitial V and Li 期刊论文 NANO LETTERS, 2018, 卷号: Vol.18 No.9, 页码: 6094-6099 作者:  Shao, RW;  Chen, SL;  Dou, ZP;  Zhang, JM;  Ma, XM 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/26 Transition metal dichalcogenide  ion migration  order-disorder transition  in situ TEM  structure ordering   p-Type SnO thin layers on n-type SnS2 nanosheets with enriched surface defects and embedded charge transfer for lithium ion batteries 期刊论文 Journal Of Materials Chemistry A, 2017, 卷号: Vol.5 No.2, 页码: 512-518 作者:  Zhang, YQ;  Ma, ZL;  Liu, DD;  Dou, S;  Ma, JM 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/31 A scan disabling-based BAST scheme for test cost reduction 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2011, 卷号: Vol.8 No.16, 页码: 1367-1373 作者:  You, ZQ;  Wang, WZ;  Dou, ZP;  Liu, P;  Kuang, JS 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 design for testability (DFT)  test data volume compression  test application time reduction  scan chain disabling