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科研机构
国家空间科学中心 [8]
内容类型
会议论文 [4]
期刊论文 [4]
发表日期
2019 [3]
2018 [1]
2017 [3]
2012 [1]
学科主题
空间环境 [1]
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Detecting dark photon dark matter with Gaia-like astrometry observations
期刊论文
JOURNAL OF COSMOLOGY AND ASTROPARTICLE PHYSICS, 2019, 期号: 5, 页码: 15
作者:
Guo, Huai-Ke
;
Ma, Yingqi
;
Shu, Jing
;
Xue, Xiao
;
Yuan, Qiang
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浏览/下载:48/0
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提交时间:2019/06/26
cosmology of theories beyond the SM
dark matter experiments
particle physics - cosmology connection
stars
The threshold voltage degradation of MOSFET in heavy-ion single event effect test
会议论文
Beijing, China, May 16, 2018 - May 18, 2018
作者:
Zhang, Zeming
;
Ma, Yingqi
;
Li, Dan
;
Tong, Chao
;
Guo, Xiaoxiao
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/12/26
Laser-Induced Micro SEL Characterization of SRAM Devices
会议论文
San Antonio, TX, United states, July 8, 2019 - July 12, 2019
作者:
Yingqi, Ma
;
Jianwei, Han
;
Shipeng, Shangguan
;
Xiang, Zhu
;
Rui, Chen
收藏
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2019/12/26
SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing
会议论文
Waikoloa, HI, United states, July 16, 2018 - July 20, 2018
作者:
Ma, Yingqi
;
Han, Jianwei
;
Shangguan, Shipeng
;
Chen, Rui
;
Zhu, Xiang
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2019/03/05
Primary investigation the impacts of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system (MicroZed) using laser irradiation
期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2017
作者:
Liu Shuhuan
;
Du Xuecheng
;
Du Xiaozhi
;
Zhang Yao
;
Mubashiru Lawal Olarewaju
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浏览/下载:115/0
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提交时间:2017/06/20
Continuous wave lasers
Digital storage
Failure modes
Irradiation
Laser beam effects
System-on-chip
Comparison of radiation-induced charge sharing generated by heavy ion and pulsed laser
会议论文
Bremen, Germany, September 19, 2016 - September 23, 2016
作者:
Song, Ruiqiang
;
Chen, Shuming
;
Han, Jianwei
;
Chi, Yaqing
;
Chen, Rui
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2018/04/09
Comparison of single-event upset generated by heavy ion and pulsed laser
期刊论文
Science China Information Sciences, 2017, 卷号: 60, 期号: 7
作者:
Liang, Bin
;
Song, Ruiqiang
;
Han, Jianwei
;
Chi, Yaqing
;
Chen, Rui
收藏
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浏览/下载:61/0
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提交时间:2017/09/14
SEE characteristics of small feature size devices by using laser backside testing
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:
Feng, Guoqiang
;
Shangguan, Shipeng
;
Ma, Yingqi
;
Han, Jianwei
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2014/12/15
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