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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：北京航空航天大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Creep behaviour of Sn-3.8Ag-0.7Cu under the effect of electromigration: Experiments and modelling 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2011, 卷号: 51, 页码: 1020-1024 作者:  Su, Fei;  Mao, Ronghai;  Wang, Xiaoyan;  Wang, Guangzhou;  Pan, Haiyan 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/06