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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 专题：西安交通大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Double outlyingness analysis in quantitative spectral calibration: Implicit detection and intuitive categorization of outliers 期刊论文 CHEMOMETRICS AND INTELLIGENT LABORATORY SYSTEMS, 2017, 卷号: 166, 页码: 23-36 作者:  Cao, Hui;  Yu, Yajie;  Zhou, Yan;  Hei, Xiali 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/26 DOA  Inlier  Error introducing pattern  Outlier   Faster-Than-Nyquist Signaling: An Overview 期刊论文 IEEE ACCESS, 2017, 卷号: 5, 页码: 1925-1940 作者:  Fan, Jiancun;  Guo, Shengjie;  Zhou, Xiangwei;  Ren, Yajie;  Li, Geoffrey Ye 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/11/26 receiver design  Faster-than-Nyquist (FTN)  capacity analysis  transmitter design   Characterization of Al2O3 in High-Strength Mo Alloy Sheets by High-Resolution Transmission Electron Microscopy 期刊论文 MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2016, 卷号: 22, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 122-130 作者:  Zhou, Yucheng;  Gao, Yimin;  Wei, Shizhong;  Hu, Yajie 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 interface  hydrothermal method  alumina  doped Mo sheet  HRTEM   Preparation and characterization of Mo/Al2O3 composites 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF REFRACTORY METALS & HARD MATERIALS, 2016, 卷号: 54, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 186-195 作者:  Zhou, Yucheng;  Gao, Yimin;  Wei, Shizhong;  Pan, Kunming;  Hu, Yajie 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 Hydrothermal method  Alumina  Powder metallurgy  Molybdenum matrix composite   A Robust Post-Processing Workflow for Datasets with Motion Artifacts in Diffusion Kurtosis Imaging 期刊论文 PLOS ONE, 2014, 卷号: 9, 期号: [db:dc_citation_issue] 作者:  Li, Xianjun;  Yang, Jian;  Gao, Jie;  Luo, Xue;  Zhou, Zhenyu 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/02 Damage Effect of Typical Electronic Device under EMP 会议论文 作者:  Cheng, Yonghong;  Ding, Man;  Wu, Kai;  Wang, Yajie;  Zhou, Debo 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/10 electronic device  lightning surge pusle  component  failure  nanosecond square pulse   Damage effect of typical electronic device under EMP 会议论文 作者:  Cheng, Yonghong;  Ding, Man;  Wu, Kai;  Wang, Yajie;  Zhou, Debo 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/10 Characteristic size  Damage and failure  Electromagnetic environments  Electronic device  High technology  Integrated degree  Lightning surges  Square pulse   Damage effect of typical electronic device under EMP 会议论文 作者:  Cheng, Yonghong;  Ding, Man;  Wu, Kai;  Wang, Yajie;  Zhou, Debo 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/10 electronic device  failure  lightning surge pusle  nanosecond square pulse