QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Experimental investigation on degradation effects in fully depleted SIMOX/SOI MOSFET's induced by single transistor latch 期刊论文 pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 1995 Cheng, Yuhua; Wei, Liqiong; Sun, Yuxiu; Yan, Guizhen; Li, Yingxue; Wu, Guoying; Wang, Yangyuan 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Influence of silicon film thickness and back gate on thin film fully depleted MOSFET characteristics of SIMOX/SOI material 期刊论文 pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 1995 Wei, Liqiong; Cheng, Yuhua; Sun, Yuxiu; Yan, Guizhen; Li, Yingxue; Wu, Guoying; Wang, Yangyuan 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13