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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Stress induced leakage current and time dependent dielectric breakdown characteristics of ultra-thin HFO2 gate dielectrics 其他 2004-01-01 Yang, Hong; Sa, Ning; Tang, Liang; Han, Ruqi; Yu, Y.H.; Ren, C.; Kang, Jinfeng 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/17 TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack 其他 2004-01-01 Yang, Hong; Sa, Ning; Tang, Liang; Liu, Xiaoyan; Kang, Jinfeng; Han, Ruqi; Yu, H.Y.; Ren, C.; Li, M.-F.; Chan, D.S.H.; Kwong, D.-L. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13