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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 内容类型：期刊论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2021/12/01 Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing   Logic operation-based Design for Testability method and parallel test algorithm for 1T1R crossbar 期刊论文 Electronics Letters, 2017, 卷号: Vol.53 No.25, 页码: 1631-1632 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Kuang, Jishun;  Elimu, Michael;  Cai, Shuo 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/31