×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
大连理工大学 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2019 [3]
2018 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
限定条件
内容类型:期刊论文
专题:大连理工大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Size-controlled graphite nanoplatelets: thermal conductivity enhancers for epoxy resin
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, 2019, 卷号: 54, 页码: 10041-10054
作者:
Xing, Zhonghao
;
Sun, Wen
;
Wang, Lida
;
Yang, Zhengqing
;
Wang, Suilin
收藏
  |  
浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2019/12/02
Crystal atomic structure
Epoxy resins
Fillers
Graphite, Conductive fillers
Economic competitiveness
Graphite nanoplatelets
Graphite nanoplatelets (GNPs)
High thermal conductivity
Nitric acid treatment
Preparation process
Quantitative study, Thermal conductivity
Gallium Nitride Normally-Off Vertical Field-Effect Transistor Featuring an Additional Back Current Blocking Layer Structure
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8
作者:
Huang, Huolin
;
Li, Feiyu
;
Sun, Zhonghao
;
Sun, Nan
;
Zhang, Feng
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2019/12/02
vertical field-effect transistor (VFET)
back current blocking layer (BCBL)
gallium nitride (GaN)
normally off power devices
Analytical model for accurate extraction of metal-semiconductor ohmic contact parameters using a novel electrode-pair layout scheme
期刊论文
PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES, 2019, 卷号: 108, 页码: 197-201
作者:
Huang, Huolin
;
Sun, Zhonghao
;
Zhang, Feng
;
Li, Feiyu
;
Cao, Yaqing
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2019/12/02
Ohmic contacts
Modeling process
Semiconductor devices
Gallium nitride
Model Development for Threshold Voltage Stability Dependent on High Temperature Operations in Wide-Bandgap GaN-Based HEMT Power Devices
期刊论文
MICROMACHINES, 2018, 卷号: 9
作者:
Huang, Huolin
;
Li, Feiyu
;
Sun, Zhonghao
;
Cao, Yaqing
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2019/12/02
threshold voltage (V-th) stability
gallium nitride (GaN)
high electron mobility transistors (HEMTs)
analytical model
high-temperature operation
Investigation of surface traps-induced current collapse phenomenon in AlGaN/GaN high electron mobility transistors with schottky gate structures
期刊论文
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2018, 卷号: 51
作者:
Huang, Huolin
;
Sun, Zhonghao
;
Cao, Yaqing
;
Li, Feiyu
;
Zhang, Feng
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/12/02
gallium nitride (GaN)
semiconductor devices
surface donor-like traps
current collapse
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace