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Probing glassiness in Heuslers via density functional theory calculations 其他
2018-01-01
作者:  Entel, P.;  Gruner, M. E.;  Acet, M.;  Hucht, A.;  Çakır, A.
收藏  |  浏览/下载:2/0  |  提交时间:2019/11/19
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2019/12/05
The assembly and function of the Annulate Lamellae pore complexes in Xenopus Egg extract and cultured mammalian cells. 其他
2016-01-01
Lu, L. Q.; Ren, H.; Guo, L.; Jiang, Q.; Clarke, P. R.; Zhang, C.
收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2017/12/03
Understanding charge traps for optimizing Si-passivated Ge nMOSFETs 其他
2016-01-01
Ren, P.; Gao, R.; Ji, Z.; Arimura, H.; Zhang, J. F.; Wang, R.; Duan, M.; Zhang, W.; Franco, J.; Sioncke, S.; Cott, D.; Mitard, J.; Witters, L.; Mertens, H.; Kaczer, B.; Mocuta, A.; Collaert, N.; Linten, D.; Huang, R.; Thean, A. V.Y.; Groeseneken, G.
收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2017/12/03
A single device based voltage step stress (VSS) technique for fast reliability screening 其他
2014-01-01
Ji, Z.; Zhang, J.F.; Zhang, W.; Zhang, X.; Kaczer, B.; De Gendt, S.; Groeseneken, G.; Ren, P.; Wang, R.; Huang, R.
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