QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Understanding charge traps for optimizing Si-passivated Ge nMOSFETs 其他 2016-01-01 Ren, P.; Gao, R.; Ji, Z.; Arimura, H.; Zhang, J. F.; Wang, R.; Duan, M.; Zhang, W.; Franco, J.; Sioncke, S.; Cott, D.; Mitard, J.; Witters, L.; Mertens, H.; Kaczer, B.; Mocuta, A.; Collaert, N.; Linten, D.; Huang, R.; Thean, A. V.Y.; Groeseneken, G. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 A single device based voltage step stress (VSS) technique for fast reliability screening 其他 2014-01-01 Ji, Z.; Zhang, J.F.; Zhang, W.; Zhang, X.; Kaczer, B.; De Gendt, S.; Groeseneken, G.; Ren, P.; Wang, R.; Huang, R. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13